3250 не загружается

[Masta G.]

Утопленник. Шьется полностью и без ошибок, в тест идет. При входе в нормал появляется "нокиа", через 5-6 секунд промаргивает (как на рабочем теле, при этом немного визуально меняется надпись), потом секунд через 5-6 снова промаргивает на начальную надпись. И так постоянно перезагружается.
Перекатаны: RAP3G, FLASH, BT, AHNE, заменены RETU и TAHVO, опорный генератор и кварц 32к. Софт перелит полностью, все пляски со стираниями, даунгрейдами, РМ-ами. Под рап и флэш воды было немного, много воды в районе силовой части и рф блоке, дорог отгнивших нет (или не нашел), а вот коррозийных компонентов очень много.
Есть идеи, друзья?

[Masta G.]

промежуточные итоги - замена RAP+FLASH - без изменений..

[Scheduler]

Проверял питание на микросхеме Flash? Скорее прогнили дороги (шины данных) RAP-FLASH либо отсутствие питания на микросхемах.
Хотя чаще всего они не шьются с такими дефектами, но проверить стоит.

[Masta G.]

Все питающие цепи в порядке. Про шины данных рап-флэш перебор, повторяю аппарат флэшится без ошибок, загружается в локал и тест.

[bmw]

Проверял питание на микросхеме Flash? Скорее прогнили дороги (шины данных) RAP-FLASH либо отсутствие питания на микросхемах.А подумать, перед тем как писАть, пробовали? Если телефон шьётся и ещё и входит в тест, значит определяется тип флеша, и следовательно вся шина данных целая и невредимая.
Есть идеи, друзья?
Проблема как-раз может быть в шине адреса, если, к примеру, один адрес в обрыве или подкорачивает то телефон будет прошиваться, но не будет включаться, потому что некоторые области флешки при прошивке будут прошиваться по 2/4/8/16 раз, а другие будут пропускаться. Но тогда тяжело себе представить какая область в прошивке может быть незаписана, а какая испорчена, чтоб тело входило в тест... Могу предположить, что какой-то из старших адресов.

[Scheduler]

А подумать, перед тем как писАть, пробовали? Если телефон шьётся и ещё и входит в тест, значит определяется тип флеша, и следовательно вся шина данных целая и невредимая.

Проблема как-раз может быть в шине адреса, если, к примеру, один адрес в обрыве или подкорачивает то телефон будет прошиваться, но не будет включаться, потому что некоторые области флешки при прошивке будут прошиваться по 2/4/8/16 раз, а другие будут пропускаться. Но тогда тяжело себе представить какая область в прошивке может быть незаписана, а какая испорчена, чтоб тело входило в тест... Могу предположить, что какой-то из старших адресов.

А если то же подумать Вы всего лишь перефразировали мой пост. Как Вы объясните перезагружающийся 6131. Полностью без ошибок шьющийся итд. Оторванный контакт под rap был. Причём так, что когда лудил паяльником на вид всё было цело. Восстановил-:wow: аппарат завёлся.
Удачи.

[bmw]

А если то же подумать Вы всего лишь перефразировали мой пост. Как Вы объясните перезагружающийся 6131. Полностью без ошибок шьющийся итд. Оторванный контакт под rap был. Причём так, что когда лудил паяльником на вид всё было цело. Восстановил-:wow: аппарат завёлся.
Удачи.Во-первых, я ничего не перефразировал, а поправил, так как вы говорили о шине данных, а она там 100% целая, без обрывов и КЗ, а вот шина адресов может быть в обрыве или КЗ.
Во-вторых, в приведённом вами примере на 6131, как-раз та же шина данных цела, а адреса могут быть повреждены и это даже не требует доказательств. Если хоть один данный будет в обрыве, то тело не будет прошиваться вообще, даже не забутится, прога даже не распознает тип флеши.

[Scheduler]

Во-первых, я ничего не перефразировал, а поправил, так как вы говорили о шине данных, а она там 100% целая, без обрывов и КЗ, а вот шина адресов может быть в обрыве или КЗ.
Во-вторых, в приведённом вами примере на 6131, как-раз та же шина данных цела, а адреса могут быть повреждены и это даже не требует доказательств. Если хоть один данный будет в обрыве, то тело не будет прошиваться вообще, даже не забутится, прога даже не распознает тип флеши.

Извиняюсь я имел ввиду шина адресов (вношу поправки) скорее всего области DDR из Combo memory.